美光纽约晶圆厂再遭诉讼:排放许可被指纵容“永久化学品”入河

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美光在纽约州克莱镇规划的四座晶圆厂,还没动工就又站上了被告席。

上周五,两个环保组织——Neighbors for a Better Micron和Jobs to Move America——再次提起诉讼,直指纽约州环境保护部(DEC)此前批准的废水和空气排放许可存在重大缺陷。他们担心,这些许可实际上默许了全氟和多氟烷基物质(PFAS)这类“永久化学品”流入奥奈达河。

PFAS是芯片制造绕不开的合成材料,几乎贯穿整个生产流程。正因为其难以降解、易在环境中累积,各国对其排放管控都格外谨慎。诉状指出,尽管美光拿到了SPDES废水排放许可,但该许可仅要求监测PFAS的存在和浓度,并未设定实质性的处理标准或排放上限。换句话说,工厂可以合法排,只要“看着它排”。

更让原告不满的是审批程序本身。他们强调,在项目依据《州环境质量审查法》(SEQRA)评估时,官方已明确承认该项目会造成“重大环境后果”,包括PFAS及其他高持久性有害物质的释放。然而DEC在最终发证前,既没有充分评估这些影响,也没有附加必要的防护措施,反而把关键的限制条件、控制手段甚至缓解决策,统统推迟到许可发放之后,或者干脆等未来的法规和研究结果出来再说。

这并非首次法律交锋。今年一月,同样的两家组织就曾起诉美光违反SEQRA程序。上个月美光已申请驳回该案,口头辩论定于8月25日举行。而本次新诉讼若进入审理阶段,目前尚未排期。

此次被列被告的除了美光,还包括DEC和美光工厂所在的奥农达加县。原告的诉求很明确:撤销现有废水和空气排放许可。一旦成功,美光将被迫重新走一遍完整的环境审查流程,并承担相关诉讼费用。

值得注意的是,诉状特别澄清,这些许可“不是常规运营批准”,其宽松条款也“并非附带或技术性遗漏”。言下之意,问题不在执行细节,而在审批逻辑本身——当已知风险被正式记录却未被有效约束时,许可的合法性就值得打一个问号。

对普通居民而言,这场官司关乎家门口河流的安全;对产业观察者来说,则折射出高科技制造落地过程中,环境监管如何在效率与审慎之间寻找平衡点。许可发了,不等于风险消了;程序走了,也不代表保护到位了。接下来法庭怎么判,或许会比任何技术白皮书更能定义“负责任制造”的真实边界。

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